,、幾種常用的篩選項目

1）高溫貯存

電子元器件的失效大多數(shù)是由于其體內和表面的各種物理化學變化所引起,，它們與溫度有密切的關系。溫度升高以后,，化學反應速度大大加快,，失效過程也得到加速，使得有缺陷的元器件能及時暴露,，予以剔除,。

高溫篩選在半導體器件上被廣泛采用，它能有效地剔除具有表面玷污,、鍵合不良和氧化層缺陷等失效機理的器件,。通常器件需要在最高結溫下貯存24~168小時。

高溫篩選簡單易行,，費用不大,，在許多元器件上都可以施行。通過高溫貯存后,，還可以使元器件的參數(shù)性能穩(wěn)定下來,，減少使用中的參數(shù)漂移。各種元器件的熱應力和篩選時間要適當選擇,，以免產生新的失效機理,。

2）功率電老煉

篩選時，在熱電應力的共同作用下,，能很好地暴露元器件體內和表面的多種潛在缺陷,，它是可靠性篩選的一個重要項目。

各種電子元器件通常在額定功率條件下老煉數(shù)小時至168小時,。有些產品,，如集成電路，不能隨便改變條件,，但可以采用高溫工作方式來提高工作結溫,，達到高應力狀態(tài)。各種元器件的電應力要適當選擇,，可以等于或稍高于額定條件,，但不能引人新的失效機理。

功率老煉需要專門的試驗設備,，其費用較高,，故篩選時間不宜過長。民用產品通常為數(shù)小時,，軍用高可靠產品可選擇100或168小時,，宇航級元器件可選擇240小時甚至更長的周期。

3）溫度循環(huán)

電子產品在使用過程中會遇到不同的環(huán)境溫度條件,，在熱脹冷縮的應力作用下,，熱匹配性能差的元器件就容易失效,。溫度循環(huán)篩選利用了極端高溫和極端低溫間的熱脹冷縮應力，能有效剔除存在熱性能缺陷的產品,。元器件常用的篩選條件是-55℃至+125℃,，循環(huán)5-10次。

4）離心加速度

離心加速度試驗又稱恒定應力加速度試驗,。這項篩選通常在半導體器件上進行,，把高速旋轉產生的離心力作用于器件上，可以剔除鍵合強度過弱,、內引線匹配不良和裝架不良的器件,，通常選用離心加速度20000g而且持續(xù)試驗一分鐘。

5）監(jiān)控振動和沖擊

在對產品進行振動或沖擊試驗的同時進行電性能的監(jiān)測,，常被稱為監(jiān)控振動或監(jiān)控沖擊試驗,。這項試驗能模擬產品使用過程中的振動、沖擊環(huán)境,，能有效地剔除瞬時短,、斷路等機械結構不良的元器件以及發(fā)現(xiàn)整機中的虛焊等故障。在高可靠繼電器,、接插件以及軍用電子設備中,，監(jiān)控振動和沖擊是一項重要的篩選項目。