,、幾種常用的篩選項目

1）高溫貯存

電子元器件的失效大多數(shù)是由于其體內(nèi)和表面的各種物理化學變化所引起,，它們與溫度有密切的關(guān)系。溫度升高以后,，化學反應速度大大加快,，失效過程也得到加速，使得有缺陷的元器件能及時暴露,，予以剔除,。

高溫篩選在半導體器件上被廣泛采用，它能有效地剔除具有表面玷污,、鍵合不良和氧化層缺陷等失效機理的器件,。通常器件需要在最高結(jié)溫下貯存24~168小時。

高溫篩選簡單易行,，費用不大,，在許多元器件上都可以施行,。通過高溫貯存后，還可以使元器件的參數(shù)性能穩(wěn)定下來,，減少使用中的參數(shù)漂移,。各種元器件的熱應力和篩選時間要適當選擇，以免產(chǎn)生新的失效機理,。

2）功率電老煉

篩選時,，在熱電應力的共同作用下，能很好地暴露元器件體內(nèi)和表面的多種潛在缺陷,，它是可靠性篩選的一個重要項目,。

各種電子元器件通常在額定功率條件下老煉數(shù)小時至168小時。有些產(chǎn)品,，如集成電路,，不能隨便改變條件，但可以采用高溫工作方式來提高工作結(jié)溫,，達到高應力狀態(tài),。各種元器件的電應力要適當選擇，可以等于或稍高于額定條件,，但不能引人新的失效機理,。

功率老煉需要專門的試驗設備，其費用較高,，故篩選時間不宜過長,。民用產(chǎn)品通常為數(shù)小時，軍用高可靠產(chǎn)品可選擇100或168小時,，宇航級元器件可選擇240小時甚至更長的周期,。

3）溫度循環(huán)

電子產(chǎn)品在使用過程中會遇到不同的環(huán)境溫度條件，在熱脹冷縮的應力作用下,，熱匹配性能差的元器件就容易失效。溫度循環(huán)篩選利用了極端高溫和極端低溫間的熱脹冷縮應力,，能有效剔除存在熱性能缺陷的產(chǎn)品,。元器件常用的篩選條件是-55℃至+125℃，循環(huán)5-10次,。

4）離心加速度

離心加速度試驗又稱恒定應力加速度試驗,。這項篩選通常在半導體器件上進行，把高速旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的離心力作用于器件上,，可以剔除鍵合強度過弱,、內(nèi)引線匹配不良和裝架不良的器件，通常選用離心加速度20000g而且持續(xù)試驗一分鐘,。

5）監(jiān)控振動和沖擊

在對產(chǎn)品進行振動或沖擊試驗的同時進行電性能的監(jiān)測,，常被稱為監(jiān)控振動或監(jiān)控沖擊試驗,。這項試驗能模擬產(chǎn)品使用過程中的振動、沖擊環(huán)境,，能有效地剔除瞬時短,、斷路等機械結(jié)構(gòu)不良的元器件以及發(fā)現(xiàn)整機中的虛焊等故障。在高可靠繼電器,、接插件以及軍用電子設備中,，監(jiān)控振動和沖擊是一項重要的篩選項目。