,、幾種常用的篩選項(xiàng)目

1）高溫貯存

電子元器件的失效大多數(shù)是由于其體內(nèi)和表面的各種物理化學(xué)變化所引起,，它們與溫度有密切的關(guān)系,。溫度升高以后,，化學(xué)反應(yīng)速度大大加快,，失效過程也得到加速,，使得有缺陷的元器件能及時(shí)暴露,，予以剔除,。

高溫篩選在半導(dǎo)體器件上被廣泛采用,，它能有效地剔除具有表面玷污、鍵合不良和氧化層缺陷等失效機(jī)理的器件,。通常器件需要在最高結(jié)溫下貯存24~168小時(shí),。

高溫篩選簡(jiǎn)單易行，費(fèi)用不大,，在許多元器件上都可以施行,。通過高溫貯存后，還可以使元器件的參數(shù)性能穩(wěn)定下來,，減少使用中的參數(shù)漂移,。各種元器件的熱應(yīng)力和篩選時(shí)間要適當(dāng)選擇，以免產(chǎn)生新的失效機(jī)理,。

2）功率電老煉

篩選時(shí),，在熱電應(yīng)力的共同作用下，能很好地暴露元器件體內(nèi)和表面的多種潛在缺陷,，它是可靠性篩選的一個(gè)重要項(xiàng)目,。

各種電子元器件通常在額定功率條件下老煉數(shù)小時(shí)至168小時(shí)。有些產(chǎn)品,，如集成電路,，不能隨便改變條件，但可以采用高溫工作方式來提高工作結(jié)溫,，達(dá)到高應(yīng)力狀態(tài),。各種元器件的電應(yīng)力要適當(dāng)選擇，可以等于或稍高于額定條件,，但不能引人新的失效機(jī)理,。

功率老煉需要專門的試驗(yàn)設(shè)備，其費(fèi)用較高,，故篩選時(shí)間不宜過長(zhǎng),。民用產(chǎn)品通常為數(shù)小時(shí),，軍用高可靠產(chǎn)品可選擇100或168小時(shí)，宇航級(jí)元器件可選擇240小時(shí)甚至更長(zhǎng)的周期,。

3）溫度循環(huán)

電子產(chǎn)品在使用過程中會(huì)遇到不同的環(huán)境溫度條件,，在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下，熱匹配性能差的元器件就容易失效,。溫度循環(huán)篩選利用了極端高溫和極端低溫間的熱脹冷縮應(yīng)力,，能有效剔除存在熱性能缺陷的產(chǎn)品。元器件常用的篩選條件是-55℃至+125℃,，循環(huán)5-10次,。

4）離心加速度

離心加速度試驗(yàn)又稱恒定應(yīng)力加速度試驗(yàn)。這項(xiàng)篩選通常在半導(dǎo)體器件上進(jìn)行,，把高速旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的離心力作用于器件上,，可以剔除鍵合強(qiáng)度過弱、內(nèi)引線匹配不良和裝架不良的器件,，通常選用離心加速度20000g而且持續(xù)試驗(yàn)一分鐘,。

5）監(jiān)控振動(dòng)和沖擊

在對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行振動(dòng)或沖擊試驗(yàn)的同時(shí)進(jìn)行電性能的監(jiān)測(cè)，常被稱為監(jiān)控振動(dòng)或監(jiān)控沖擊試驗(yàn),。這項(xiàng)試驗(yàn)?zāi)苣M產(chǎn)品使用過程中的振動(dòng),、沖擊環(huán)境，能有效地剔除瞬時(shí)短,、斷路等機(jī)械結(jié)構(gòu)不良的元器件以及發(fā)現(xiàn)整機(jī)中的虛焊等故障,。在高可靠繼電器、接插件以及軍用電子設(shè)備中,，監(jiān)控振動(dòng)和沖擊是一項(xiàng)重要的篩選項(xiàng)目,。